| 사 양 |
| Electronic 사양 |
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Receiver Inputs
멀티채널 수 : 1, 2, 4, 6, 8, 16
변환 입력 임피던스 : 채널 당 50/100/200/500R
입력 감쇄기 : 0/-20/-40dB
입력 프리앰프 : +20dB 저 소음 프리앰프
수신기 게인 : 90dB
시스템 대역폭 : 0.1~25MHz(-6dB)
대역 여파기(bandpass filter) : 0.5/1/2.5/5/10MHz
TCG : 포인트 수량: 16
진폭 해상도 : 0.8ns
시간 해상도 : 10ns
수정 합계 : 80dB
경사 범위 : 0–40dB/us
Dynamic 범위 : >80dB
채널 누화 분리 : >80dB
표면 부근 해상도 : 강철로 된 1/64FBH의 경우 1.5mm
수신기 소음 : 여과 수준에 따라1.8nV/Squart (Hz)~2nV/Squart (Hz)
연결 : LEMO 또는 BNG 패치 bay
출력 전압 : -20V~-400V negative 사각파
상승/하락 시간 : 5ns+/-1ns
펄스 폭 : 10ns 스텝에서 19ns ~2us
출력 보호 : 충분히 짧은 회로 출력 보호
최대 재현율 : @10ns PW – 100kHz / 사용된 사이클 수량
@50ns PW – 100kHz / 사용된 사이클 수량 |
| 일반 사항 |
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전원 : 유니버셜 전원 (110-240V)
치수 : 런치박스- 400x290x224mm (WxDxH)
랙 탑재 압력 기기–482x510x170mm
무게 : 런치박스–12kg
랙 탑재 압력 기기–15kg |
| 하드웨어 처리 |
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게이트 : 6 게이트+1인터페이스 게이트
게이트 모드 : C-스캔 /스트립 차트
게이트 당 피크 : 1차, 2차… 10차, 최대 지속
게이트 개시 : 피크, 리딩/트레일링 flank, 제로 크로싱
측정 유형 : 특정 조합 형태로 된 상대적 또는 절대적 측정
정류 : RF, RW, HWR, HWN
초과 샘플링 : 최대 400MHz
DAC 게이트 : 요청 시 이용 가능
후방 벽면 감쇄 게이트 : 요청 시 이용 가능 |
| 감쇄 |
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모터 제어 : 최대 6축까지 서보(servo) 또는 스테퍼(stepper)
인코더 : 6 채널 단일 엔드/디퍼런셜 입/출력
외부 트리거 입력 : 3.3V 펄스 입력/5V 허용)
동기 출력 : 3.3V 펄스 출력
고 전류 스위치 : 4 채널, 500mA, 최대 정격 30V
PC 인터페이스 : USB, RS232, 평행, SVGA, PS2
옵션 1:SAR, T-SYNC : TTL 호환 가능한 출력
고 전류 디지털 출력 : TTL/PLG 등에 연결하기 위한 16 출력
아날로그 출력 : 16 출력 (0-5V 범위)
옵션 2:아날로그 입력 : 8채널(+/-2.5V 범위)아날로그 출력:8채널(+/-2.5V 범위)
전류 루프 출력 : 4~20mA 출력 |
| 응용 소프트웨어 |
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A, B, C-스캔 및 스트립 차트
A-스캔 분포 : Hibert 변환 enveloping 최대 피크 A-스캔은매우 높은 펄스 재현율로 표시됩니다
TFT 분석을 포함한 포괄적인 DSP 도구상자
파형 처리 : 2D 및 3D 데이터 처리 다시 샘플 추출
다각형, 원, 타원형, 정사각형, 통계적인 직선 및 면적 측정
색상 팔레트 편집 : 충분히 사용자 정의 가능한 색상 지도
Gating : 경보를 발령하거나 측정 내용을 기록 |
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| A-스캔 디스플레이 |
복수 채널 어플리케이션의 경우 검사 과정에서 몇 개의 사이클로부터 A-스캔을 확인, 비교할 수 있는 능력이 중요합니다.
이 사례에서 6개의 A-스캔이 나타나지만 보다 복잡한 검사의 경우 다수가 포함될 수도 있습니다.
볼 수 있듯이 각 A-스캔은 이러한 특정한 셋업에 독자적인 게인 제어 기능을 갖추고 있습니다.
각 페이지에서 어떠한 제어 기능과 정보를 표시하고 원하는 바에 따라 구성하는 것은 사용자의 선택에 달려 있습니다. |
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| 스트립 차트 디스플레이 |
몇 개의 스트립 사이클에서의 측정 결과를 보여 주는 스트립 차트는 검사 과정에서 생생하게 표시되며, 진폭, 비행 데이터 시간
각각의 혼합 형태를 포함하고 있습니다.
수많은 스트립 차트는 검사 요건으로 포함될 수 있으며, 추가 게이트들은 경보 기능을 작동시키고 플랜트 메커니즘을
제어하기 위하여 스트립 차트 자체에서 작성됩니다.
SFD-100은 스트립 차트에 한정되지 않으며, C-스캔 및 B-스캔 및 강력한 평가 tool 과 색상 map 컨트롤도 표시 생성 할 수
있습니다. |
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