| EQUOTip 550 Leeb 임팩트 디바이스 |
| 측정 범위 |
1-999 HL |
| 측정 정확도 |
± 4 HL (800 HL에서 0.5 %)
± 6 HLU (Leeb U의 경우) |
| 분해능 |
1 HL; 1 HV; 1 HB; 0.1 HRA; 0.1 HRB; 0.1 HRC; 0.1 HS; 1 MPa (N/mm2) |
| 임팩트 방향 |
자동 보상 (DL/U 프로브 제외) |
| 충격 에너지 |
- D, DC, E, S 프로브의 경우 11.5 Nmm
- DL 프로브의 경우 11.1 Nmm
- C 프로브의 경우 3.0 Nmm
- G 프로브의 경우 90.0 Nmm
- U 프로브의 경우 200.0 Nmm
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| 임팩트 바디 질량 |
- D, DC, E, S 프로브의 경우 5.45 g (0.2 온스)
- DL 프로브의 경우 7.25 g (0.26 온스)
- C 프로브의 경우 3.10 g (0.11 온스)
- G 프로브의 경우 20.0 g (0.71 온스)
- U 프로브의 경우 26.0 g (0.92 온스)
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| 볼 인덴터 |
- 탄화 텅스텐, C, D, DC 프로브의 경우 3.0 mm (0.12 인치) 직경
- 탄화 텅스텐, DL 프로브의 경우 2.78 mm (0.11 인치) 직경
- 탄화 텅스텐, G 프로브의 경우 5.0 mm (0.2 인치) 직경
- 세라믹, S 프로브의 경우 3.0 mm (0.12 인치) 직경
- 다결정 다이아몬드, E 프로브의 경우 3.0 mm (0.12 인치) 직경
- 경화강, U 프로브의 경우 50.0 mm (1.97 인치) 직경
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| 작동 온도 |
-10 ~ 50˚C (14 ~ 122°F) |
